ADATE318 - 600 MHz双通道集成DCL，内置PPMU、VHH驱动功能、电平设置DAC和片内校准引擎

ADATE318是AD公司的一款自动测试设备产品，ADATE318是600 MHz双通道集成DCL，内置PPMU、VHH驱动功能、电平设置DAC和片内校准引擎，本站介绍了ADATE318的封装应用图解、特点和优点、功能等，并给出了与ADATE318相关的AD元器件型号供参考。

ADATE318 - 600 MHz双通道集成DCL，内置PPMU、VHH驱动功能、电平设置DAC和片内校准引擎 - 自动测试设备 - ATE概述 - Analog Devices

产品描述

ADATE318是一款完整的单芯片ATE解决方案，用于执行驱动器、比较器和有源负载(DCL)、四象限单引脚(Per-pin)参数测量单元(PPMU)的引脚电子功能。它具有单位芯片VHH驱动功能，支持闪存测试应用，集成的16位DAC和片内校准引擎可提供器件工作所需的所有直流电平。

驱动器提供三种有源状态：数据高电平、数据低电平和端接模式，以及一种高阻抗抑制状态。抑制状态与集成动态箝位电路一同使用，有利于实现高速有源端接。输出电压范围为?1.5 V至+6.5 V，支持各种自动测试设备(ATE)和仪器仪表应用。

ADATE318可以作为两个单端驱动/接收通道或一个差分驱动/接收通道使用。每个通道都具有一个高速窗口比较器和一个可编程阈值差分比较器，适合差分ATE应用。每个通道还提供一个四象限PPMU。

用于DCL和PPMU功能的所有直流电平都由24个片内16位DAC产生。为了支持精确的电平编程，ADATE318集成校准功能，可校正每个功能模块的增益和失调误差。校正系数可以存储在片内，写入DAC的任何值都会利用适当的校正系数进行自动调整。

ADATE318利用串行可编程接口(SPI)总线对所有功能模块、DAC和片内校准常数进行编程。它还有一个片内温度传感器和过压/欠压故障箝位电路，用于监控和报告器件温度，以及工作期间可能发生的任何输出引脚或PPMU电压故障。

应用

自动测试设备

半导体测试系统

电路板测试系统

仪器仪表和表征设备

优势和特点

数据速率：600 MHz/1200 Mbps

带高阻抗和反射箝位电路的3电平驱动器

窗口比较器和差分比较器

±25 mA有源负载

单位引脚PPMU范围：−2.0 V至+6.5 V

低泄漏模式： 4 nA（典型值）

集成16位DAC和失调/增益校正

高速工作电压范围：–1.5 V至+6.5 V

专用VHH输出引脚范围：0.0 V至13.5 V

功耗：1.1 W（每通道）

欲了解更多特性，请参考数据手册

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